標(biāo)準(zhǔn)磁探B型試塊(亦稱12孔直流試環(huán))，與美國的BETZ環(huán)同效；適用于檢驗磁粉探傷設(shè)備磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)，也用于考察試驗條件和操作方法是否適當(dāng)。
標(biāo)準(zhǔn)磁探B型試塊(亦稱12孔直流試環(huán))，與美國的BETZ環(huán)同效；適用于檢驗磁粉探傷設(shè)備磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)，也用于考察試驗條件和操作方法是否適當(dāng)。當(dāng)不能確定磁化規(guī)范、磁場方向和有效磁化范圍。B型試塊用于驗證磁化電流為直流電或三相全波整流電的磁粉綜合性能。
規(guī)格：中心孔徑φ31.8mm，
人工缺陷孔徑φ1.78mm,
表面距離1.78-21.34mm
符合標(biāo)準(zhǔn)：NB/T47013.4-2015
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